以MiniTest 4500涂層測(cè)厚儀為例,其非常適合粗糙表面。例如在噴丸表面進(jìn)行測(cè)量時(shí),讀數(shù)往往高于實(shí)際涂層厚度。這是由于噴丸表面的物理性質(zhì)造成的。在這種情況下,建議使用統(tǒng)計(jì)圖并計(jì)算峰值上的平均厚度,如下所示:
方法A(Rz>20µm):該方法應(yīng)用于粗糙度等級(jí)至少為20µm(0.8 mils)的表面。
1、首先按照涂層測(cè)厚儀說明書對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)時(shí),首先使用未經(jīng)噴丸處理的無涂層樣品。其表面應(yīng)光滑,曲率半徑和基材應(yīng)與后續(xù)測(cè)量對(duì)象相同。
2、再取一個(gè)未涂層但經(jīng)過噴丸處理的樣品(也有與后一個(gè)測(cè)量對(duì)象相同的要求,見第1點(diǎn)),讀取大約10個(gè)讀數(shù)以獲得平均Xo。
3、在此之后,在相同質(zhì)量的涂層噴丸樣品上再讀取約10個(gè)讀數(shù),以產(chǎn)生平均值Xm。
4、差值(Xm-Xo)±s給出了峰值上涂層厚度(Xeff)的平均值,其中“s”是兩個(gè)值Xm和Xo的較高標(biāo)準(zhǔn)偏差:Xeff=(Xm-Xo)±s
這樣就得到了相對(duì)精確的Xeff涂層厚度。
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